【摘要】： 利用近空間升華法在經(jīng)過不同打磨處理的玻璃襯底上制備了CdTe薄膜,用X射線衍射儀,掃描電鏡表征了CdTe薄膜的微結(jié)構(gòu)。結(jié)果表明CdTe薄膜的微觀結(jié)構(gòu)依賴于襯底粗糙度,(111)晶面的擇優(yōu)取向隨襯底表面粗糙度的增加而降低。