基于微弱信號檢測的光隔離器性能測量技術(shù)研究
【摘要】:
針對當前光隔離器性能檢測中插入損耗與隔離度測量精度不足、微弱信號難以探測的問題,提出一種基于STM32單片機的光隔離器性能檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)將轉(zhuǎn)換后的圓偏振光入射至光隔離器,利用InGaAs-PIN光電二極管結(jié)合ADL5304對數(shù)放大器實現(xiàn)寬動態(tài)范圍、...
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